YTB-A039-X射线荧光光谱仪-,X射线荧光光谱仪泉州市亚泰斯仪器有限公司手机版

详细介绍

YTB-A039 X射线荧光光谱仪

产品特点：
高分辨率探测器：美国原装电制冷Si-PIN探测器，配套原装数字式多道脉冲幅度分析器，检测结果和分析速度远比国内采用线性放电法（模拟）多道分析器精准和快速。

精密稳定的高压电源：采用工业级X射线荧光分析的精密高压电源，为X射线光管提供长时间的稳定高压。

低功率X射线光管：采用W/Rh靶X射线管，*高速风扇制冷，设计寿命5万小时。

高像素摄像头：内置高清摄像头以及微动样品移动装置，方便对样品扫描区域的实时准确定位和观察。

*的X射线防护体系：采用电源开关锁、精密样品盖开合检测等安全装置*防止X射线的泄漏，确保操作人员的安全。

超安全样品腔：精密科学计算仪器外壳厚度，选择重量与安全*平衡点，既保证仪器使用的安全，也有效减轻仪器重量。

采用新型滤光片：有效的降低X射线荧光本底，提高检测灵敏度。*光学准直器，光束zui小直径达0.025mm，集中X射线光束，增强荧光强度，提高对微量元素的检测以及超薄镀层的分析。

*的光谱分析方法：紧跟zui前沿的X射线光谱分析方法，科学的对光谱进行元素定性、定量分析。由于采用了*复杂的计算、校正算法，zui大程度上减少了定量分析需要的标样，这在同行中处于地位。通过改进硬件，Pb、Cd等的检测灵敏度提高2倍。

无标样分析：真正意义上实现无任何标样的含量、镀层分析。对于含量分析，高含量元素相对误差范围可控制在1%以内；对于镀层分析，厚度相对误差范围可控制在10%以内。

**镀层厚度分析：选用的功能模块实现对镀层厚度的分析，使用户无需添加额外硬件即可进行镀层厚度分析。

技术指标		基本参数
探测器	145eV FWHM @ 5.9keV	外型尺寸	650 X 520 X 475 mm
稳定度	小于 0.05%	样品腔	18 X 490 X 320 mm
测量对象	固体、液体、粉末	输入电压	AC 220V /50HZ
测量时间	60-300s	功耗	260W
元素范围	硫（S）-铀（U）	重量	48Kg
检测下限	2ppm	工作温度	20-30℃
含量范围	2ppm-99.99%	工作湿度	40-70%
X光管压	1-50KV
X光管流	1-1000 A
**测镀层	0-40 m

产品简介

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