7-SEO表面光电压测试系统

       表面光电压主要用于半导体光激发电荷分离和电荷转移过程，实现半导体的谱带解释，并为研究符合体系的光敏过程和光致界面电荷转移过程提供可行性方法。

产品特点：

1、模块化设计，紧扣用户需求，经济灵活，适用面广，升级、改造、维护均很方便；

2、可选大功率卤钨灯及大功率氙灯光源，也可使用用户已有或的光源；

3、分光系统保证良好的波长准确度和重复性，消除多级光谱的影响，杂散光小；

4、弱信号处理能力，有效提高信噪比，保证测量精度；

5、多种样品架(号：ZL.9/ZL.7/ZL.7/ZL.1/ZL.4/ZL.X)供选择，夹持方便，电极接触好，对弱信号测试干扰小；

6、全自动化专用系统软件：

a、集成了分光系统、多级谱滤除装置、弱信号处理系统等参数设置和选择；

b、自动扫描、信号放大、A/D、数据采集和数据处理，图表文件自动生成与显示；

c、多种格式的数据和图片备份、打印输出功能；

d、多组数据对比功能；

e、粗大误差的自动去除，系统误差、线性误差、周期误差、T误差的自动校验。

技术参数：

1、光电压谱测量：最小电压＞10nV；

2、光电流谱测量：最小电流＞10pA；

3、光伏相位谱分析：相检测范围：-180°~+180°；

4、表面光电压、光电流、相位谱分析的光谱波长范围：200~2500nm，可以全光谱连续扫描，光谱分辨率0.1nm（@1200g/mm），波长准确度±0.1nm（@1200g/mm）；

5、可以实现任意波长下，不同强度光照下的表面光电压、光电流、相位谱分析，实现光谱

分析的多元化；

6、光路设计一体化，所有光路均在暗室或封闭光路中进行，无外界杂光干扰。