CSK-IA超声波探伤仪标准试块

CSK-IA超声波探伤仪标准试块

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-01-19 13:00:15
116
产品属性
关闭
济宁钧测仪器设备有限公司

济宁钧测仪器设备有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;2利用50和1

详细介绍

CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的
主要用途有:
1利用R100mm曲面测定斜探头的 入射点和前沿长度;
2利用50和1.5mm圆孔测定 斜探头的折射角;
3利用试块直角棱边测定斜探头 声束轴线的偏离情况;
4利用25mm厚度测定探伤 仪水平线性、垂直线性和动态范围;
5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;
6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;
7利 用50、44和40mm 三个台阶孔测定斜探头分辨力。
上一篇：英国ETher NDE EtherCheck无损探伤仪 下一篇：赛锐特 纺织品遮热性能测定仪采购指南
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话：