产品简介
1.XRF-650T是专门针对电镀层等测试要求设计得一款产品。2.打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方。3.采用自主研发的SES信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更精确。4.一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化。5.兼容Microsoft Windows作业系统之软件。6.使用X荧光射线可作非接触非破坏快速分析膜厚。
详细介绍
XRF-650T技术规格书
1.产品名称及机型指标介绍:
1.1. 产品名称及型号：能量色散X荧光射线膜厚分析仪-------XRF-650T 型
1.2. 工作条件：
● 工作温度：15-30℃
● 相对湿度：40%～50%
● 电 源：AC :220V ±5%
1.2. 技术性能及指标:
1.2.1 测厚技术：X射线荧光测厚技术；
1.2.2 测试样品种类：金属镀层、合金镀层；
1.2.3. 测量时间：15秒；
1.2.4. 探测器类型：比例计数器电制冷；
1.2.5. CCD:300万像素；
1.2.6 电源：交流220V±5V；（建议配置交流净化稳压电源。）
1.3.产品特点
1.3.1XRF-650T是专门针对电镀层等测试要求设计得一款产品。
1.3.2打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方。
1.3.3采用自主研发的SES信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更精确。
1.3.4一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化。
1.3.5兼容Microsoft Windows作业系统之软件。
1.3.6使用X荧光射线可作非接触非破坏快速分析膜厚。
1.3.7多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品。
1.3.8拥有多种Filter选择性。
1.3.9各种样品单层至多层(5层),合金膜厚与溶液均可量测。
1.3.10定点自动定位分析。
1.3.11光径对准全自动化。
1.3.12影像重叠功能。
1.3.13自动显示量测参数。
1.3.14彩色区别量测数据。
1.3.15多重统计显示视窗与报告编辑应用。
1.3.16 2D/3D, 任意位置量测控制。
1.3.17 Y轴全自动控制。
1.3.18雷射对焦与自动定位系统。
1.3.19 X-ray运作待命(睡眠)控制。
1.3.20温控稳定延长校准时效。
1.3.21全进口美日系零件价格优势及服务时效快。
1.3.22的一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，保证了核心部件的运行安全。
1.3.23镀层专用测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便。 可实现编程跑程序。
1.3.24本机采用USB2.0接口，有效地保证了数据准确高速有效的传输。
2.专用软件
2.1.软件简介
专门针对元素成分检测而开发，对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。
2.2功能介绍
※专门检测电镀层厚度，测量时间为15秒.。
※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作
※的机芯温度监控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。
3. 产品保修及售后服务
3.1 对客户方操作人员免费进行培训。
3.2 安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。
3.3正常使用，经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器自验收合格之日起保修12个月。
3.4 产品终身维修。（客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证，发票和保修卡等）
3.5 免费提供软件升级；
3.6 提供的技术服务，在接到用户故障信息后，2小时内响应，如有需要，48小时内派人上门维修和排除故障。
