X射线荧光膜厚仪XTU-40
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苏州实谱仪器有限公司
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微聚焦加强型X射线装置：可测试各类极微小的样品，即使检测面积为0.003mm²的样品也可轻松、精准检测变焦装置及位置补偿算法：可对各种异性凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm自主研发EFP算法：多层多元素、各种元素及有机物，甚至有同种元素在不同层也可精准测量微米级移动精度：高精密XY移动滑轨，实现多点位、多样品的精准位移和同时检测，移动精度可达5um，轻松应对极微小样品检测*的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限
微聚焦加强型X射线装置：可测试各类极微小的样品，即使检测面积为0.003mm²的样品也可轻松、精准检测
变焦装置及位置补偿算法：可对各种异性凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm
自主研发EFP算法：多层多元素、各种元素及有机物，甚至有同种元素在不同层也可精准测量
微米级移动精度：高精密XY移动滑轨，实现多点位、多样品的精准位移和同时检测，移动精度可达5um，轻松应对极微小样品检测
*的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限
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