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JIMA RT RC-05B是一款采用新半导体光刻技术制作的微型分辨率测试卡。它用于校准和监控系统分辨率,确保微焦点或纳米焦点X射线检测系统获得高质量的结果。JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米(3 μ m至50 μ m)的分辨率。这对应于6微米和100微米(6 μ m和100 μ m)之间的焦斑尺寸。