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JIMA RT RC-04分辨率测试卡

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产品简介

JIMA（日本检测仪器制造商协会），致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA RT RC-04分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保1证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

JIMA（日本检测仪器制造商协会），致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保1证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。

JIMA RT RC-04 分辨率测试卡：

测试卡封装在一个防护盒中

盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm

芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.015mm

图案布局：T型

线/空间尺寸：32种规格图案,

0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,

0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm，7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm

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