XT-50型冲击试样缺口投影仪我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-2007《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。是理化试验室的专用设备

技术参数：

1.投影屏直径：        180mm

2.工作台尺寸：

方工作台尺寸：    110×125mm

圆工作台直径：    90mm

工作台玻璃直径：  70mm

3.工作台行程：

纵向：            ±10mm

横向：            ±10mm

升降：            ±12mm（无刻度）

4.工作台转动范围：    0~360°（无刻度）

5.仪器放大倍率：      50X

物镜放大倍率：    2.5X

投影物镜放大倍率：20X

6.光源（卤钨灯）：    12V    100W

7.电源：             220V    50Hz

8.外形尺寸：         515×224×603mm（长×宽×高）

9.重量：             约18Kg

主要配置： 

1.投影仪主机 一台

2.底座调整钮 四个

3.电源线 一根

4.卤钨灯 二个

5.平板玻璃 一块

质量保证

设备三包期为正式交货之日起一年。在三包期内，供货方对设备出现各类故障及时免费维修服务。对非人为造成的各类零件损坏，及时免费更换。保修期外设备在使用过程中发生故障，供货方及时到订货方服务，积极协助订货方完成维修任务。