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面议Megger MTB7671/2测试箱
面议Megger MIT200系列绝缘和连续性测试仪
面议Manx SQ 系列
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面议Xencis Dione 320 OEM 系列长波红外相机核心
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面议通过业内的波形捕获能力发现真实信号,捕获更多信号细节。 工具套件的设计能自动执行高速串行数据信号的设置、采集和分析,加快设计调试和一致性测试。
准确、简单和可定制的物理层认证测试 – 为满足需要行业标准认证的设计人员,MSO/DPO70000 系列以选件形式提供标准规定的一致性测试和分析模块,用于配置通过/失败波形模板和测量极限测试。提供了PCI Express®、DDR 内存、串行 ATA、SAS、HDMI、以太网、DisplayPort、MIPI®C-PHY、MIPI®D-PHY 和 M-PHY、电源和 USB 模块。
请参阅下列内容,了解可提供应用专用解决方案的亮点:
DDR 内存总线分析(DDRA 选件)– 自动识别 DDR1、LPDDR、LPDDR2、LPDDR3、DDR2、DDR3、DDR4 和 GDDR3 读写,进行 JEDEC 合规测量,提供每个读写突发所有边沿的测试通过/未通过结果。DDRA 具有对时钟、地址和控制信号进行测量的能力。除了可以进行一致性测试之外,DDRA 与 DPOJET 相结合,还为调试复杂的内存信号问题提供了速的方式。DDRA 在提供 16 条数字逻辑探测通道的 MSO70000 系列混合信号示波器上运行时,还可以使用命令/地址行触发特定读/写状态。
USB 3.0 发射机测试解决方案(USB3 选件)– 对 USB 3.0 器件执行检验、表征和调试。测量在 DPOJET 中进行,符合 USB 3.0 技术规格要求。对于一致性和自动化,可以使用 USB-TX。
PCI Express®发射机一致性测试和调试(PCE3 选件)– 测试支持,分析PCI Express®Rev 1.0、2.0 或 3.0(草议规范)设计性能。通过使用 DPOJET,PCE3 选件能够进行符合 PCI-SIG 标准的测试。
NRZ 和 PAM4 测量 – 数据通信网络的吞吐量不断提高。泰克的 DPO72504DX 和 DPO73304DX 支持高达 10GBASEKRn 的数据传输速率。DPO70000、DPOJET 抖动和噪声分析和 SDLA 串行数据链路分析工具强强联合,对数据通信标准进行准确的反嵌和眼图分析。
C-PHY 使用的机制恢复时钟。C-PHY 1.0 实现了定制时钟恢复算法,称为触发眼图。在该模式中,在该模式下,四个差分信号的个过零应作为时钟恢复和渲染眼图的触发点。眼图模板的位置经过优化,以实现眼图张度(在测量眼图高度时)。由于触发眼图机制的原因,触发点(过零)的所有抖动会被吞噬并反射到另一侧。 在整个记录长度执行的抖动和眼图渲染可通过显示扩展周期中的设备异常,来帮助设计人员更好地鉴定设备。通过该软件可以运行针对 3M UI 的眼图分析和执行夜间运行,从而获得详细鉴定。