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VIAVI适用于 PCI Express 6.0 的 Xgig 6P16 分析仪/协议训练器
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VIAVI适用于 PCI Express 6.0 的 Xgig 6P4 协议训练器
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Megger MIT300系列电工绝缘电阻测试仪
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Megger MTB7671/2测试箱
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Megger MIT200系列绝缘和连续性测试仪
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Manx SQ 系列
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Xencis Dione S 1024 CAM 系列长波红外相机核心*工业热像仪模组
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Xencis Dione 1024 OEM 系列长波红外相机核心*工业热像仪模组
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Xencis Dione 320 OEM 系列长波红外相机核心
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Xenics Dione 320 CAM 系列长波红外相机核心
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Xenics Dione 1280 OEM 系列长波红外相机核心
面议2650 系列大功率 SourceMeter SMU 仪器专为高电压/电流电子产品和功率半导体元件（例如二极管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流转换器、电池、太阳能电池及其他高功率材料、组件、模块和部件）的检定和测试而设计。 它们提供的功率、精度、速度、灵活性和易用性，可提高研发、生产测试和可靠性环境中的效率。 有两种仪器可用，提供高达 3000V 或高达 2000W 的脉冲电流功率。
| 特点 | 优势 |
| 高度灵活的四象限电压和电流源/负载，与高精度电压表和电流表相耦合 | 提供相比同类产品颇具优势的性能，具有 6½ 位分辨率。 |
| 源或阱 (2651A) 脉冲功率高达 2000W（±40V、±50A），或直流电源高达 200W（±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A）；轻松连接两个器件（串联或并联）创建高达 ±100A 或 ±80V 的解决方案 | 支持功率半导体、HBLED、光学设备、太阳能电池、GaN、SiC 和其他复合材料与设备的检定/测试。应用范围包括半导体接点温度检定；高速、高精度数字化；电迁移研究；以及高电流、高功率设备测试。 |
| 源或阱 (2657A) 直流或脉冲功率高达 180W（±3000V@20mA、±1500V@120mA） | 提供功率半导体器件检定和测试所需的高压，包括 GaN、SiC 及其他复合材料和器件、高达 3kV 的故障和漏电测试以及亚毫秒瞬态检定。 |
| 内置基于网络浏览器的软件 | 支持通过任何浏览器、任何计算机、从任何地方进行远程控制。 |
| 有数字化或积分测量模式可供选择 | 支持精确检定瞬态和稳态行为，包括快速变化的热效应。 |
| TSP（测试脚本处理）技术 | 可以与 2657A 型与 2600B 系列型号轻松地进行系统集成。 |
| TSP-Link 通道扩展总线 | 让多台 2651A 和 2657A 与所选 2600B 系列 SMU 仪器组合成多达 32 条通道的集成系统。 |
| 兼容于 8010 型高功率设备测试夹具和 8020 型高功率接口面板 | 为封装部件或晶片级高功率设备测试提供安全而方便的连接。 |
| 免费的测试脚本构建器软件工具 | 帮助您创建、修改、调试和存储 TSP 测试脚本。 |
| 选配的 ACS 基础半导体元器件检定软件 | 开发、质量检验或故障分析期间执行封装部件检定时，较大限度地提高工作效率。 |