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Keithley 超低电阻配置

连接时，2182A 型和 6220 或 6221 型可以如同一台仪器一样运行。2182A/622X 组合是电阻测量、脉冲式 I-V 测量和微分电导测量的理想工具，比其他解决方案具有更显著的优势。2182A/622X 组合也非常适合许多纳米技术应用，因为它测量电阻时可以不消耗被测器件 (DUT) 的太多功率，否则可能会导致结果无效，甚至损坏 DUT。

特点	优势
测量电阻范围为 10nΩ 至 100MΩ	测量范围非常广，专门用于超低电阻测量，以检定高导电性材料、纳米材料和超导材料。
同步的电流脉冲源，测量时间短至 50μs	限制元器件（如纳米器件和纳米材料）中的功耗，如果以非常低的功率电平进行测试，这些元器件很容易损坏。
增量模式电流反向、电阻测量技术	通过消除热偏移影响以及将读数噪声降低到 30nV p-p 噪声（典型值），进行精确的超低电阻测量。可以对多个读数进行平均，以更大程度地降低噪声。
微分电导测量	比其他电导测量技术的速度快十倍，噪声更小。无需平均多次扫描的结果，即可实现准确的测量。
纳伏表和电流源接口无缝配合	在进行电导与电阻测量时，两台仪器可以像一台仪器一样运行。
增量、微分电导和脉冲模式产生最小的电流瞬变	可以检定可易被电流尖峰损坏的设备。

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