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日立 超高分辨场发射扫描电子显微镜Regulus系列
面议日立 热场式场发射扫描电镜 SU5000
面议日立 钨灯丝扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II
面议日立 高性能聚焦离子束系统 MI4050
面议日立 环境型原子力显微镜 AFM5300E
面议日立 全自动型原子力显微镜 AFM5500M
面议日立 钨灯丝扫描电子显微镜 SU3800/SU3900
面议日立 原子力显微镜工作站AFM5000II/RealTune® II
面议日立 台式扫描电镜 TM4000II/TM4000PlusII
面议ZeGage光学轮廓仪
面议ZeGage™ Pro
面议NewView™9000 3D光学轮廓仪
面议产品介绍:
AFM5100N除了激光检测方式之外,全新的「自检测悬臂」,在保证高分辨表面形貌观察的同时,大大简化了AFM悬臂操作。
产品特点:
1. 简便的悬臂安装
通常的悬臂是非常渺小而且很难操作,内部装有传感器的「自检测悬臂」比普通的AFM探针要大得多,容易拿取,安装非常简单方便。
激光检测方式的探针需要调节激光光斑的位置,操作复杂,而采用自检测方式的「自检测悬臂」无需调节激光光斑。
悬臂的机械结构,能够以俯视方式直接观察悬臂的位置,从而轻松调整样品的测量的位置。除此之外,更加尖锐的探针提高了分辨率。