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面议HL-C8051F嵌入式实验开发系统/单片机实验箱
一、概述
HL-C8051F嵌入式实验/开发系统是针对C8051F 单片机(SOC)而开发的。C8051F单片机兼容MCS-51指令系统,利用此平台,不仅可以开展传统的MCS-51单片机教学,如指令系统、中断系统、I/0口接口实验、外围逻辑和通信实验,也可以讲授片上系统(SOC)的概念、体系结构、设计方法、系统应用。该实验系统实现了C8051F 单片机片上的全部资源,并集成了USB 主从通信,TCP/IP以太网通信,UCOS-II 嵌入式系统移植源码。我们编写了所有功能和模块的测试程序,提供了大量的实例,使学生在学会C8051F系列片上系统单片机开发方法的同时,感受到片上系统单片机在设计方法上的革新和解决的高效。
二、实验系统组成:
(1) CPU板:CPU核心模块采用C8051F020芯片,该芯片是C8051F系列单片机中功能其全的一款;集成开发环境支持Silicon Labs IDE和KEIL C软件。
(2) 片内:64K FLASH, 4K XRAM
片外扩展:256K FLASH, 32K XRAM
(3) CPU板C8051F020芯片I/0引脚全部引出,可以和用户外部电路连接;
(4) 实验系统带有JTAG接口,并配有HL-EC5型USB高速通讯专业仿真器,通过4脚的JTAG接口可以进行非侵入式、全速的在线系统调试、仿真;
(5) 4*4阵列式键盘;
(6) 8位逻辑电平开关输出、8位LED逻辑电平显示;
(7) 6位动态八段LED数码管;
(8) 2路单脉冲信号发生电路和1路8MHZ时钟发生电路;
(9) 时钟分频电路;
(10) 模拟量发生器电路和逻辑笔电路;
(11) 8*8LED点阵及驱动电路;
(12) 128*64 LCD液晶显示屏;
(13) 蜂鸣器电路;
(14) 直流电机测速电路;
(15) 四相步进电机及驱动电路;
(16) 继电器电路及接口;
(17) 双通道RS-232 接口;
(18) SPI 接口,LED 数码管显示;
(19) IIC 接口,接24C01 串行EEPROM;
(20) IIC 接口,PCF8563日历时钟 ;
(21) 8 路12 位AD,2 路12 位DA 接口;
(22) D12 USB 从机通信;
(23) SL811 USB 主机通信;
(24) TL8019 10M 以太网通信;
三、C8051F020单片机主要特点:
1、模拟外设:
(1)逐次逼近型(SAR)12位 ADC(ADC0)
●可编程转换速率,100ksps
●可多达8 个外部输入;可编程为单端输入或差分输入
●可编程放大器增益:16、8、4、2、1、0.5
●数据相关窗口中断发生器
●内置温度传感器(±3°C)
(2)8 位 ADC(ADC1)
●可编程转换速率,500ksps
●8 个外部输入
●可编程放大器增益:4、2、1、0.5
(3)两个12 位DAC
●可以同步输出,用于产生无抖动波形
(4)两个模拟比较器
●16个可编程回差电压值
●可用于产生中断或复位
(5)电压基准
●内部基准(2.4V)
(6)精确的VDD 监视器和欠压检测器
●可通过MONEN引脚允许或禁止。
2、片内JTAG 调试和边界扫描
●片内调试电路提供全速、非侵入式的在系统调试
●支持断点、单步、观察点、堆栈监视器;可以观察/修改存储器和寄存器
●符合IEEE1149.1 边界扫描标准
3、高速8051 微控制器内核
●流水线指令结构;70%的指令的执行时间为一个或两个系统时钟周期
●速度可达25MIPS(时钟频率为25MHz 时)
●22 个矢量中断源
4、存储器
●4352 字节内部数据RAM(4K + 256)
●64K 字节FLASH 存储器;可以在系统编程,扇区大小为512 字节
●外部64K 字节数据存储器接口(可编程为复用方式或非复用方式)
5、数字外设
●8 个字节宽的端口I/O(C8051F020)所有口线均耐5V 电压
●可同时使用的硬件SMBus(I2CTM 兼容)、SPITM及两个UART 串口
●可编程的16 位计数器/定时器阵列,有5个捕捉/比较模块
●5 个通用16 位计数器/定时器
●专用的看门狗(WDT)定时器;
6、时钟源
●内部可编程振荡器:2-16MHz
●外部振荡器:晶体、RC、C、或外部时钟
●实时时钟(RTC)方式(用定时器3 或PCA);
7、供电电压(2.7V - 3.6V)
●典型工作电流:10mA @ 20MHz
●多种节电休眠和停机方式
五、实验项目:
C8051F020CPU内部功能试验
(1) 程序看门狗(WDT) 实验;
(2) 计数器实验;
(3) 定时器实验;
(4) 数字I/O端口实验;
(5) 内部数字功能模块实验;
(6) 内部时钟选择实验;
(7) 外部时钟选择实验;
(8) 可编程计数器/定时器实验;
(9) 片内的外扩数据存储器实验;
(10) 模数转换(ADC)实验;
(11) 数模转换(DAC)实验;
(12) 电压比较器实验;
(13) 中断控制实验;
(14) 温度传感器实验
(15) UCOS-II 嵌入式系统移植;
C8051F020CPU外部硬件试验
(1) P1口亮灯实验
(2) P1口转弯灯实验
(3) P3.3口输入,P1口输出
(4) 继电器控制实验
(5) 小直流电机测速实验
(6) 四相步进电机控制实验
(7) 4*4键盘显示实验;
(8) 6位动态LED数码管显示实验
(9) 8*8 LED点阵显示实验
(10) 128*64 LCD液晶显示实验
(11) Flash ROM 外部程序存储器实验
(12) SRAM外部数据存储器实验
(13) RS3232串口通讯实验
(14) SPI 总线接口实验
(15) IIC 接口, AT24C02读写实验
(16) IIC接口,PCF8563日历时钟实验
(17) D12 USB 从机通信实验
(18) SL811 USB 主机通信实验
(19) RTL8019 10M 以太网通信实验