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静电测试仪器专门用于静电的处理,需要远离水,油,溶剂和其他具有传导性的污染物。对暴露在如此的污染物中将会引起产品的电气绝缘故障。特别小心确定环境没有露珠形成。静电测试仪应该在一个湿度小于60%的环境下保存和使用。不要插入任何的物体于用于固定感应器的口子里面,不要有任何异物进入感应器的开口。静电测试仪不能在有腐蚀性的酸/碱烟或腐蚀性的气体如氯之类的环境中使用操作。正常的操作条件在它的铭牌上有列出。当不使用的时候,请关闭仪器。为了仪器精确的测量请将他正确的接地。如果跌落,此仪器很容易损坏。如果发生此类事情,它应该交由的技术人员做仔细的检查和必要的修理。此仪器为电子设备,其包含的传感器可能对机械的震动和冲击非常敏感。当然它也包含有一个微型处理芯片和电子电路,所以它不能在有许多电子噪音的环境中使用。
静电放电的测试组合
静电放电电流在IC中流动是有规律可循的,所以针对每个PIN做交叉放电分析是我们使用的最基本的测试方法。但是并非胡乱交叉测试就能得到结论,必须有一套正确而快速的测试方法作为测试的准则。下面以GJB548A-96方法3015中的要求,详细介绍各种静电放电的测试组合。
3.1 I/O脚对电源脚的静电放电测试
静电的积累可能是正的或负的电荷,因此静电放电测试对同一IC脚而言要求具有正负两种极性。对每一支I/O管脚而言,其对电源脚的HBM静电放电测试有下列四种ESD测试组合,其等效电路示意图如图3-图6所示。
(1)图3为PS-模式(Pin-to-Vss正极性):Vss脚接地,正的ESD电压出现在该I/O脚对Vss脚放电,此时VDD与其他脚悬空。
(2)图4为NS-模式(Pin-to-Vss负极性):Vss脚接地,负的ESD电压出现在该I/O脚对Vss脚放电,此时VDD与其他脚悬空。
(3)图5为PD-模式(Pin-to-VDD正极性):VDD脚接地,正的ESD电压出现在该I/0脚对VDD脚放电,此时Vss与其他脚悬空。
(4)图6为ND-模式(Pin-to-VDD负极性):VDD脚接地,负的ESD电压出现在该I/O脚对VDD脚放电,此时Vss与其他脚悬空。
3.2 Pin-to-Pin的静电放电测试
静电放电可能出现在IC的任何两只管脚之间,若该两只管脚之间无直接的相关电路,共同使用的是VDD与Vss电源线相连接,就有可能出现当ESD放电发生在不相干的两只IC脚之间时,静电放电电流会先经过某部分电路流向VDD或Vss电源线上,再由VDD或Vss电源线连接流向另一只IC脚,再由那只IC脚流出IC。但是如果每一个IC的两只管脚之间都要做测试,那么一个40HN的IC便要有1560种排列组合的ESD测试,这样太浪费时间。因此测试标准便规定了改良式的测试方法。如图7-图8所示,即所谓的Pin-to-Pin测试。在该种方法的测试组合中,也按静电放电的正负两种极性分成两种测试模式:
(1)图7为正极性模式:正的ESD电压出现在某一I/O脚,此时所有其他I/O脚全部接地,但所有的VDo脚与Vss脚都悬空。
(2)图8为负极性模式:负的ESD电压出现在某一I/O脚,此时所有其他I/O脚全部接地,但所有的VDD脚与Vss脚都悬空。
3. 3 VDD-to-VSS静电放电测试
静电放电也可能发生在VDD脚与VSS脚之间,因此对VDD脚与Vss脚有下列测试组合,其等效电路示意图如图9-图12所示
(1)图9为VDD-正极性模式:正的ESD电压出现在VDD脚,此时Vss接地,但所有的I/O脚都悬空。
(2)图10为VDD-负极性模式:负的ESD电压出现在VDD脚,此时Vss接地,但所有的I/O脚都悬空。
(3)图11为Vss-正极性模式:正的ESD电压出现在Vss脚,此时VDD接地,但所有的I/O脚都悬空。
(4)图12为Vss-负极性模式:负的ESD电压出现在Vss脚,此时VDD接地,但所有的I/O脚都悬空。
这里需要做一些说明:在一个IC中,各个管脚的功能有所不同。可能有两个或两个以上标注为相同名称的电源脚(例如:Vcc、VDD、Vss、analog、GND、digital、GND等等),按照标准的规定,只要这些电源脚在内部是通过金属连接或欧姆连接,两个电源脚之间的引线电阻小于2Ω,就可以把这一组电源脚或接地脚连在一起,看成是一个VDD Grouppin或VssGrouppin,其他IC脚分别对其进行静电测试。否则就应该把这些VDD或Vss看成是各自独立的,其他脚分别按照以上的测试组合对其进行测试。除了电源脚以外的其他各种类型的管脚,比如数据、地址、读写控制、时钟、基准和补偿等管脚,在静电测试时不用考虑其管脚的功能,只把他们看成是Inputpin或Outputpino。