主要技术参数：
基于BH的多维TCSPC技术
适用于任何快速共聚焦或多光子扫描系统
采集时间降至100毫秒
超高时间分辨率
图像大小从128 x 128像素到2048 x 2048像素
峰值计数率超过20 MHz
IRF宽度<25 ps
时间通道宽度降至405 fs
每像素最多4096个时间通道数
FLIM主要应用实例：
单晶卤化物钙钛矿进行化学阴离子交换处理后，需对其结构上的材料特性进行检测。此时需要获得一个二维平面上完整的信息，以此判断其性质的改变结果，利用FLIM及高光谱设备，可以快速测到正方形显示单元在中心、边缘、顶点的荧光寿命衰减曲线和PL光谱曲线(比例尺，5μm）。
