ATX210覆层测厚仪-北京时代光南检测技术有限公司手机版

详细介绍

ATX210覆层测厚仪概述

ATX210覆层测厚仪是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量；既可用于实验室，也可用于工程现场；广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；是材料保护专业的仪器。

ATX210覆层测厚仪符合以下标准：

ATX210覆层测厚仪

ATX210覆层测厚仪功能特点

采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金等)上非磁性覆层厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)，非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层厚度(如:橡胶、油漆、阳极氧化膜等)
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
设有五个统计量：平均值、值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
具有存贮功能：可存贮100 个测量值
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据
可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；并可用直方图对一批测量值进行分析
具有电源欠压指示功能
操作过程有蜂鸣声提示
具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示
设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式

ATX210覆层测厚仪技术参数

1. 一点校准(um)：±[2%H+1]
2. 两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1]
3. 一点校准(um)：±[2%H+1.5]
4. 两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1.5]

1. 最小曲率半径(mm)：凸1.5 | 凹9
2. 基体最小面积的直径(mm)：ф7
3. 最小临界厚度(mm)：0.5
4. 最小曲率半径(mm)：凸3 | 凹10
5. 基体最小面积的直径(mm)：ф5
6. 最小临界厚度(mm)：0.3