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BXR-626镀层测厚仪
BXR-626系列X荧光镀层测厚仪采用X荧光分析技术,可以测定各种金属镀层的厚度,包括单层、双层、多层及合金镀层等,可以进行电镀液的成分浓度测定。它能检测出常见金属镀层厚度,无需样品预处理;分析时间短,仅为数十秒,即可分析出各金属镀层的厚度;分析测量动态范围宽,可从0.005μm到60μm。 参考价面议BXR-666古董元素分析仪
BXR-666古董元素分析仪为用户提供了一种操作方便且性价比高的检测技术,无需将检测工具探入到被测样件的材料中,也不会损坏被测样件,更不需要熔样或细微的损坏,即可获得样件的古董中的化学成份信息。与化学试剂测试法相比,使用X R F对古董进行分析是一种更迅速、更经济的多元素检测方法。该分析仪是古文物检测需要的科学检测仪器。中国历史博物馆、收藏家协会等都是用户。 参考价面议