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技术参数
型号 | QuaNix 4200 | QuaNix 4500 |
基体 | Fe磁性 | Fe/NFe磁性非磁性 |
探头形式 | 一体 | |
显示 | LCD数字显示 | |
测量范围 | 0－3000μm | Fe:0-3000μm NFe：0－2000μm |
测量精度 | 0－50μm：≤±1μm， 50－1000μm：≤±1.5%， 1000－2000μm：≤±2%，2000－5000μm≤±3% | |
显示精度 | 1μm | |
工作温度 | －10－＋60℃ | |
温度补偿 | 0－50℃ | |
zui小基体 | 10mm×10mm | |
zui小曲率 | 凸、凹半径：3mm/25mm | |
zui薄基体 | Fe：0.2mm，NFe：0.05mm | |
电源 | 5号电池2节 | |
重量 | 110g | |
尺寸 | 110×60×27mm | |
特点：
零位稳定：
所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位，
可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。
仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。
一台好的测厚仪校零后，可以长时间保持零位不漂移，
确保准确测量
温度补偿：
涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术，以保证不同温度下的测量精度。
红宝石探头：
探头接触点的耐磨性直接影响测量的精度。普通金属接触探头，其表面磨损后会带来很大的误差。
*的直流采样技术：
使得测量重复性较传统交流技术有*的*和提高
