现场/远程-飞行时间二次离子质谱
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北京依维特技术服务有限公司
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飞行时间二次离子质谱技术(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry,TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术,通过用一次离子激发样品表面,打出极其微量的二次离子,根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量,具有分辨率的测量技术。
飞行时间二次离子质谱IONTOF 5
应用范围:当产品表面存在微小的异物,而常规的成分测试方法无法准确对异物进行定性定量分析,可选择TOF-SIMS.
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