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HCC-24磁阻法测厚仪,磁阻法测厚仪,测厚仪
◎测量范围:0~1200μm
◎测量误差:±(3%H+1μm)
◎zui小测量面积:φ10mm
◎外形尺寸:160mm×80mm×30mm
执行标准:ISO-2178
☆☆HCC-24磁阻法测厚仪技术特点:
◎具有耐磨硬质金属探针的弹簧导套式探头,不但能在坚硬或粗糙的表面上进行测量,而且能保证测头具有不变的压紧力和稳定的取样值。
☆☆测量基质:导磁金属基体表面上非导磁覆盖层厚度.