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XTK-110E型便携式电解法水分仪
面议XTK-206型便携式露点仪
面议HFT-35ES型便携式智能露点仪
面议DPT500-HQ型手持式露点仪-美国 PhyMetrix
面议HDP8000-L型便携式精密冷镜露点仪
面议TMA-202-TK系列电解法微量水分析仪-德国CMC
面议HYG-MINI-TK型便携式烃水露点仪-俄罗斯VYMPEL
面议XTK-110EL型电解法(P2O5)在线式微量水分析仪
面议XTK-101TDL型便携式激光水分仪
面议XTK-102TDL型在线原位式激光水分仪
面议XTK-103TDL型在线式激光水分仪
面议XTK-PDM483型探入式精密冷镜露点仪
面议产品概述:
本公司 是瑞士 ROTRONIC 的 OEM 露点仪制造厂家。公司经过长年研发和悉心钻研世界低湿测量的核心技术,最终成功研发出了除维萨拉
DMT242 露点变送器以外的真正国产化的芯片加热核心技术,成功打破了维萨拉公司在这方面的技术垄断,经过多家公司的试用后均反馈很好,并送
国家严格测试符合国标。它的出世将尽可能的降低企业的采购成本,可以替代市场上-80℃以上的同类进口露点产品。
芯片加热:所有水分测量探头,经过一段时间工作,由于工作环境的不良(如:油污、粉尘、腐蚀气、酸碱气体等),会对探头造成伤害,引起探头
测量数据漂移产生偏差。解决的办法就是对芯片进行高温加热。一般加热在 160℃以上,持续几分钟,用于蒸发芯片上的水分及油污,保证它的
零位准确度。加热阶段,露点仪停止工作。经过几分钟冷却,又可进入循环测量。 理论上讲温度变化与露点温度不存在关联。温度仅与相对湿度有关
联,所以探头加热不影响露点温度测量。
加热条件:我们的探头启动加热条件,当外部气体露点≤-40℃时,软件自动开启加热条件。加热温度为 170 度,持续四分钟,然后进入冷却阶段 约 2
分钟。用于探头数据的平衡整理。为了保证探头在-40℃以上长期干燥,我们的探头温度始终恒定在 30℃的环境工作(温度与露点无关),用于阻止
细微的水汽与油污。所以我们有大加热 170℃与小加热 30℃。二者仅紧密结合,保证探头始终位于干燥环境。
技术参数:
测量特性 | |
测量范围 | -80~+20℃(可选: -100~+20℃) |
Tdf 准确度 | ± 1℃: -10~+40℃ |
± 2℃: -60~+20℃ | |
模拟输出 | 4~20mA(3 线) |
供电电压 | 12~28 VDC |
工作环境 | |
温 度 | -40∽60℃ |
产品选型 | |
XTK-80L | 传感器(4∽20mA输出) |
XTK-801 | 传感器+显示表(露点显示) |
XTK-802 | 传感器+显示表(露点、温度双显示) |