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高达100 MHz的采样率
SSPRQ模式上的TDECQ测试不到5秒
得益于基于FPGA的体系结构，快速模式捕获和DSP
一个广泛的内置DSP滤波器库，如贝塞尔-汤姆森、CTLE、DFE、FFE、de 嵌入和组件仿真，所有这些都可以在标准GUI中免费获得。
用户可写校准常数
可校准至DUT，包括测试夹具和电缆的损耗
添加各种滤波器
测量插入损耗
频谱分析+THD
眼图及抖动分析
码型触发及捕获
高速数字通信信号的一般时域测量
高速SerDes测试
口数老化测试
收发器制造测试
收发器评估和验证
PAM-N和NRZ驱动的认证。
TP1-a应力校准
| 参数 | 规格 |
| 信号类型 | NRZ，PAM4 |
| 本底抖动 | 200fs rms |
| 输入电压 | 1200mVp-p |
| 上升/下降时间 | 9.5ps |
| 垂直分辨率 | 14位 |
| 电输入通道带宽 | 35GHz |
| 输入接口 | 2.92mm |
| 外部时钟输入 | 0.1-6.6GHz |
| 外部时钟输入电压 | 3555 -1800mVp-p |
| 外部时钟输入接口 | SMA(f),50Ω |
| 采样率 | 70-100MHz |
| 存储深度 | 256x16M(4通道共享） |
| 码型捕获 | 至PRBS16及SSPRQ |
| SFDR（正弦波） 50mVp-p@1Gs/s | -58dBc@10GHz, -53dBc@30GHz |
| 温度范围 | 0-75° |
| 额定功率 | 120/240V, 1.5A/0.9A |
| 控制接口 | GBE |
| 重量 | 约1.5Kg |
支持测量参数：
| 信号编码 | 参数测量 |
| PAM4 | TDECQ |
| SNDR | |
| RLM | |
| Eye height by BER | |
| Eye width by BER | |
| NRZ | Top & Base |
| Min & Max | |
| One & Zero | |
| Transition Time | |
| Cross% | |
| AOP | |
| OMA | |
| Mask Margin | |
| Peak to Peak | |
| Eye Amplitude | |
| Eye Width | |
| Eye Height | |
| Jitter | |
| SNR | |
| ER | |
| VEC | |
| Vrms | |
| Dj & Rj | |
| Noise |
ML4025-BTP-Gen2 35GHz电采样示波器， 4通道
3YW 3年保修
