MCW-2010A镀层测厚仪简介：
MCW-2010A型（涡流）镀层测厚仪采用抗干扰技术、测量精度高、数字显示、功耗低、内置探头全量程测量、机型小巧、操作简捷；且具有欠电指示、统计、系统/零点/两点校准功能，其性能已经达到同类仪器的*水平。

MCW-2010A镀层测厚仪主要技术参数：
1、测量范围：　　0~1200um
2、测量误差：　　<3%±1um
3、zui小示值：　　1um
4、显示方式： 4位液晶数字显示
5、主要功能：
(1).测量：内置探头全量程测厚
(2).统计：设有三个统计量：平均值、zui大值、zui小值
(3).校准：可进行零点校准、两点校准及系统校准
(4).电量：具有欠压显示功能
(5).蜂鸣提示：操作过程中有蜂鸣提示
(6).关机：具有自动关机和手动关机两种方式
6、电源：两节1.5v电池
7、功耗：zui大功耗110mw
8、外形尽寸：115mm*45mm*25mm
9、重量：100g（含电池）
10、使用环境温度：0℃~+40℃ 相对湿度：不大于90%
11、基体zui小厚度： 0.3mm
12、基体zui小平面的直径： 7mm
13、zui小曲率半径： 凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠电压指示： 右上角显示＂＂
*临界厚度值：工件基体厚度大于1mm时，其镀层厚度的测量不受基体厚度影响。

MCW-2010A镀层测厚仪配置单：
1、镀层测厚仪MCW-2010A 一台
2、1.5v电池 (7号) 二节
3、标准样片 一盒
4、标准基体 一块
5、小铝箱 一个
6、说明书、合格证 一套