品牌
其他厂商性质
北京市所在地
可定制带系统的涂层测厚 |
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。 |
仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求。 涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。 彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。 | ||
随机附送仪器箱 (仪器的举例) |
特点概述 |
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
LEPTOSKOP 2042 带有45°微型探头 | * 取决于配置级别 |
3种配置级别以更好的完成测量人任务 |
LEPTOSKOP 2042 有3种配置级别 |
基本型 – 证明质量的基本特征 | |
上等型 - 附加统计评估 | |
专业型 - 统计评估和数据存储 | |
如果针对新的测量要求,而需要仪器增加新的功能,可以在任何时候把仪器升级为上等型和/或专业型。升级只需在现场输入解锁代码,“统计”和/或“统计& 数据存储”,便可完成;而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。 这里有操作指南和制定模块的参考说明。 | ||
通过解锁代码可以很方便的升级 (证书举例) |
举例:仪器上的用户界面图像 |
选择菜单项目(例如:语言清单) | ||||||
| ||||||
清晰的统计读数值和当前测量值 | ||||||||||||||||||
| ||||||||||||||||||
电脑读数也被存储在目录和文件中 | ||||||||
| ||||||||
多样的探头 |
多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下,更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm 也是可以的。根据需求,我们也可以订做特殊探头。 |
探头类型 | 测量方法 | 测量范围 | 订货号 | |
标准探头Fe 0?br> 用于在宽阔的、容易测量的地方 | Fe | 0 - 3000 祄 | 2442.100 | |
标准探头 NFe 0?/font> | NFe | 0 - 1000 祄 | 2442.130 | |
标准探头 NFe S 0?/font> | NFe | 0 - 3750 祄 | 2442.140 | |
标准探头 Fe S 0?br>用于测量表面有宽阔的涂层厚度 | Fe | 0.5 - 20 mm | 2442.120 | |
标准探头 Fe 90?br>用于测量难接近的部位,例如:管子的内部 | Fe | 0 - 3000 祄 | 2442.110 | |
双晶探头用于测量表面有宽阔的涂层例如:管子的内部涂层. | Fe | 0.5 - 12.5 mm | 2442.200 | |
微型探头0?用于测量小尺寸和难接近的部位例如:钻孔的底部 | FeNFe | 0 - 500 祄 | 2442.300 2442.310 | |
微型探头 45?用于测量小尺寸和难接近的部位 | FeNFe | 0 - 500 祄 | 2442.320 2442.330 | |
微型探头 90?用于测量小尺寸和难接近的部位例如:管子的内壁和钻孔 | FeNFe | 0 - 500 祄 | 2442.340 2442.350 | |
注:点击单独的探头图片,可以得到更多详细信息 |
技术资料 |
数据传输接口RS232 或 USB | |
电源:电池、充电电池、USB或外接电源 | |
测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头) | |
测量速度: 每秒测量2个数值 | |
存储: *多 9999 个数值,140个文件 | |
误差: 涂层厚度 < 100 祄: 1 % 的数值 +/- 1 祄 (校准后) 涂层厚度 > 100 祄: 1..3 % 的数值 +/- 1 祄 涂层厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的数值 +/- 10 祄 涂层厚度 > 10000 祄: 5 % 的数值 +/- 100 祄 |
附件 |
试块和膜片 | |
探头定位装置 (适用于微型探头) | |
定位辅助装置 (适用于微型探头) | |
电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理 | |
电脑软件 EasyExport 用于把单独的杜说或全部文件传输到Windows 程序里 |