分体式涂层测厚仪

QNIX4200P分体式涂层测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-08-27 09:00:27
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简测实业(上海)有限公司

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产品简介

QNIX4200P分体式涂层测厚仪体积小巧,方便携带,易于操作。该仪器采用了分体式设计,探头与主机用探头线连接。

详细介绍

德国尼克斯QNIX4200P分体式涂层测厚仪,QNIX4200P体积小巧,方便携带,易于操作。该仪器采用了分体式设计,探头与主机用探头线连接。

技术参数:

 

4200

4200P

 

Fe

Fe

探头形式

一体

分体

 

LCD数字显示

测量范围

Fe:0-3000μm
Fe05000μm

Fe:0-3000μm
Fe05000μm

测量精度

050μm≤±1μm501000μm≤±1.5%10002000μm≤±2%
20005000μm≤±3%

显示精度

099μm0.1μm1000μm以上,0.01mm

工作温度

10  60

温度补偿

050

小基体

10mm×10mm

小曲率

凸、凹半径:3mm/25mm

薄基体

Fe0.2mmNFe0.05mm

 

5号电池2

 

110g

 

110×60×27mm

 

分体式涂层测厚仪产品特点:

分体式设计,探头与主机用探头线连接

体积小巧,方便操作

不需要校准标准片,只用校零

使用超简单,无需培训,拿到即会用

精度高达1μm,可通过第三方计量

 

QNIX4200PQNIX4200的区别:

QNIX4200P是分体式带探头线设计

QNIX4200是一体式设计

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