电子探针 EPMA-1720/1720(H)

电子探针是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器， [1]  可以用来分析薄片中矿物微区的化学组成。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外，还有U元素以后的元素以外都可进行定性和定量分析。电子探针的大批量是利用经过加速和聚焦的窄的电子束为探针，激发试样中某一微小区域，使其发出特征X射线，测定该X射线的波长和强度，即可对该微区的元素作定性或定量分析。

可在微区领域进行高灵敏度·高精度分析。控制系统全部数字化。观察、分析只需使用鼠标、键盘，Windows操作系统，使用方便,保证安全。EPMA-1720H型配备高性能CeBs灯丝，实现了在亚微米领域的分析实用化。

·分析元素:-Be ~ aU

·X射线分光器:高灵敏度型

·样品尺寸:100mmx100mmx50mm(t)-x射线取出角:52.5°

-二次电子分辨率:6nm(EPMA-1720H为5nm)