XLO-K01 露点仪

XLO-K01 露点仪

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2024-07-07 21:43:26
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产品简介

露点仪采用320*240点阵液晶显示,标准19寸机箱,可集成于成套分析系统中,方便快捷,其工作原理是根据水分子的浓度对电容容值的变化,从而测量出气体中微量水分的含量

详细介绍

XLO-K01 露点仪

露点仪采用320*240点阵液晶显示,标准19寸机箱,可集成于成套分析系统中,方便快捷,其工作原理是根据水分子的浓度对电容容值的变化,从而测量出气体中微量水分的含量。采用进口氧化铝或高分子薄膜传感器及*的数字处理技术,实现对微量水分的连续快速在线分析。广泛应用于空分制氮、天然气、石油化工、高温烧结炉保护气体、电子行业保护性气体、食品工业、医药工业、机械制造及各种混合气体中微量水分的快速分析。

技术参数:

测量范围: +20 ~ -100℃ 0-1000PPmv (量程可定制)

率: 0.1℃ 同时显示PPmv、mg/m3

测量精度: ≤±2℃

性: ≤±1.5℃

响应时间: T90≤5min(由低湿到高湿)

预热时间: ≤5min

样气流量: 2000±50mL/min

样气压力: 0.10Mpa≤入口压力≤0.20Mpa

样气温度: 0-50℃

环境温度: 5℃~+50℃

环境湿度: ≤90%RH

输出信号: 4~20mA(可根据要求定制,订货时必须说明)

通讯模式: RS232或RS485(通讯协议: Modbus RTU)

工作电源: 100~240VAC 50/60Hz 1A

外形尺寸: 3U 标准:484宽X133高X300深 4U 标准:484宽X177高X380深(mm)

开孔尺寸: 3U 标准:484宽X135高 4U 标准:484宽X179高(mm)

仪器重量: 5kg

测量原理: 氧化铝或高分子薄膜传感器

测量介质: 常规气体均可以(如果含有腐蚀性气体订货时必须说明)

仪器寿命: 大于五年(正常使用)

传感器寿命:大于三年(正常使用)

精密抽气泵:样气压力为负压或常压情况下使用(订货时必须说明)

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