实验案例：波长色散X射线荧光光谱仪对涂层中元素的定点分析
时间：2025-10-23 阅读：28
波长色散X射线荧光光谱仪对涂层中元素的定点分析示例
操作部分
二、样品制备
将涂层样品直接放入专用托架待测。
三、测试条件
四、测试结果
仪器内置CCD相机拍摄的样品表面图象如下图所示。根据图象，可以确认在部位有线状异物混杂在涂层中。
CCD合成图象
首先指定线状异物部分，空白的涂层部分及涂料纸，将分析面积设定在1mm范围内进行定性分析。由Cu-K可见很大的差别。然后，可确认涂层的成分是Ti和Fe，涂料纸的成分是Al,Si和Ca。
异物部分(兰色)和涂层部分(红色)的定性图表
根据定性分析结果得到的成分组成进行元素分布分析。由于进行元素分布分析时使用样品台驱动装置，所以样品可以直接移动到分析点，能够不改变与分辨率有关的光学系统进行稳定的测试。根据元素分布分析结果推断，样品中混有铜丝。
根据各部分代表成分的元素分布图象
五、总结
日本理学波长色散型X射线荧光分析法和电子分析法不同，谱峰不受充电的影响，不需要特殊的样品制备。另外，与电子分析相比，荧光X射线的穿透力强，可以分析厚涂层下的成分，在涂层应用提供用力的帮助，提高生产质量，带动工厂利益的提升。