仪器描述

美国的KS8500B场发射扫描电子显微镜操作简便，结构小巧，可以方便的配置应用于常规实验室中。该系统创造性地优化了低压成像技术，极大程度上提高了图像的表面对比度。

8500B安装快速，操作简便。该系统无需额外的辅助设备，仅需要一个外接电源插头，且其大小仅如常用的镭射打印机，功能，可以媲美其他需要安装在实验室中的、昂贵的大型场发射扫描电子显微镜。

500B场发射扫描电子显微镜的性能稳定，再现性高，性价比极为。

的FE-SEM 8500B可以选择配置内置式能谱仪，对材料微区成分元素种类和含量进行定性、半定量的点、线、面分析。

FE-SEM 8500B可搭载的硅漂移探测器(SDD)，取出角度20°，窗口大小25mm²，采用Peltier效应电制冷，使用过程中无液氮需求。

精确定性测量的元素范围是Carbon(6)~Americium(95)，能量分辨率<134eV(Mn Kα)，是行业内分辨率最好的。

仪器特点：
• 高成像精度，等同于其他常规的场发射扫描电子显微镜
• 可变的低压范围（500~2000V），减少了样品镀层的需求和费用
• XYZ三轴均可编程控制的工作台，用户可精确控制坐标、扫描范围，以及保存
• 微型化的静电透镜设计，保证结果的再现性
• 结构小巧，安装方便，可配置在任意实验室，而无特别要求

技术参数

• 成像电压： 500 to 2,000 V

• 束    流： 0.2 to 1 nA

• 分 辨 率： 1000V时，优于10nm

• 放大倍率： 250 to 200,000X

• 扫描区域： 1 x 1 mm (max)

• 发 射 源： 肖特基场发射电子枪

• 探 测 器： 二次电子探测器，被反射电子探测器，Topo探测器

• 样品大小：  100mm x 60 mm，厚度30mm

• 可视区域：  50mm x 30mm

• 样 品 杯：  标准扫描电镜样品杯

图像

• 图像格式：JPEG, TIFF, BMP, PNG

• 图像像素： 2048 x 2048 

可选EDS

• Peltier效应电制冷硅漂移探测器(SDD)，窗口大小25mm²

• 分辨率优于134eV（ FWHM at Mn Ka）

• 元素范围：C-Am

• 谱图：超快获取图像，分辨率 2048 x 2048

• 存储格式：JPEG, TIFF, BMP, MSA and Excel

• 样品尺寸：直径25mm，高度15mm

• Landing energy range : 500–15,000 V

应用范围

• 聚合物材料

• 薄膜材料

• 生物材料

• 非导电样品

• 对能量敏感的材料

• 至于玻璃基底上的材料