大尺寸镀层测厚仪 M2 BLIZZARD
    M2 BLIZZARD是布鲁克公司推出的一款微区X射线荧光光谱仪，依据ASTMB568和DIN/ISO 3497，对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。采用开槽设计，非常适用于扁平形状和尺寸过大的样品，例如大型印刷电路板。该仪器采用全新的、 的XSpect Pro软件进行控制。
PCB分析的理想解决方案
主要特性：
开槽构型，带可伸长的“超大尺寸”样品台
可以调节槽缝间隙（10或20毫米）
设有大型、耐用的样品托盘，用于样品定位
全新优化XSpect Pro操作软件
的XData软件用于应用程序，标准样品与数据库管理
可自定义设置用户界面和测试结果界面
具备波谱自动保存功能，用于测量后结果的再处理以及存档
用户设定公差，可以方便地判定“合格/不合格”
“峰值查找器”，用于定性分析未知样品
软件含有测试报告模板以供客户编辑使用
配置工业强度的脚踏开关，用于“开始/停止”测量（可选项）
可设置SPC软件，配合客户工艺需求（可选项）
仪器设计简洁坚固，只需一条USB电缆与PC连接
技术参数
M2 BLIZZARD 的两种探测器选项。
可选用比例计数器（PC）或 高分辨率硅漂移探测器（SDD）
激发：微焦点，高性能，带侧窗，钨靶
高电压：50 kV，50W
探测器：大面积正比计数器，感应面积1100mm，能量分辨率<950eV（Mn-K）
选配探测器：高性能Peltier冷却XFlash硅漂移探测器，感应面积30mm2，能量分辨率<150eV，（Mn-Ka）
光斑尺寸：固定或4个自由切换，0.1到1.5mm；其他准直器：例如槽式
样品视图：高分辨率彩色摄像系统，放大倍数~30倍
样品台：手动塑料样品托盘，Z轴自动聚焦，行程:30mm
定量分析：总体分析：基于标样的经验系数法模式，无标样的FP法（基本参数法）模式；镀层分析：FP-基本参数法模式
供电：110/230 VAC，50/60 Hz，功率150W
尺寸（宽x深x高）：1055x688x430mm
重量：75kg