NLD-LD半导体中空玻璃露点仪是根据中华人民共和国国定标准GB/T11944-2002《中空玻璃》设计研制的中空玻璃专用的检测仪器。使用于中空玻璃、真空玻璃及密封玻璃制品的露点检测。广泛用于玻璃深加工企业的质量控制和各级质量监督检测部门。
结构与工作原理
半导体中空玻璃露点仪由低温测试头和制冷机组组成，通过测试头和被检测样品的紧密接触，使样品表面局部冷却，当达到一定温度后，内部水气在冷点部分结露或结霜。露点仪主要检测样品在某一温度下是否结露或结霜。
技术参数
1、低温测试头表面直径：50mm。
2、测温范围：-45-0℃ 准确度：0.5%
3、工作电压：220伏
4、使用环境：温度0-50℃
设备清单
1．制冷主机 1套
2．低温测试头 1个
3．真空吸盘 1个
4．产品合格证 1份
5．产品说明书 1份