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CST-50 冲击试验缺口投影仪

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产品简介

概述：CST-50型冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口质量而设计、开发的一种专用光学仪器，与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，对比直观，操作简单，效率高，是理化试验室的专用设备

CST-50 冲击试验缺口投影仪

概述：

CST-50型冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口质量而设计、开发的一种专用光学仪器，与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，对比直观，操作简单，效率高，是理化试验室的专用设备。
技术参数：

投影屏：￠200mm

放大倍数： 50X

光源： 12V 100W（卤钨灯）
电源： 220V 50Hz 150W
外型尺寸： 515×224×603mm
重量：约18Kg

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