J200激光诱导击穿光谱仪(LIBS)

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2022-09-20 16:30:37
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产品简介

J200激光诱导击穿光谱仪(LIBS)具有简单直观的图形界面,专有的化学计量软件利用一组高度复杂的统计算法为我们的LIBS仪器增加了材料鉴别能力

详细介绍

J200激光诱导击穿光谱仪(LIBS)具有简单直观的图形界面,专有的化学计量软件利用一组高度复杂的统计算法为我们的LIBS仪器增加了材料鉴别能力,非常适合实验室分析和生产监控应用,该仪器能够监测具有分析意义的单个或多个元素,坚固的仪器设计确保了每个激光脉冲的可重复测量结果,是挑战许多样品基质中定量元素分析的理想仪器,从而使我们的客户能够进行高度创新的LIBS研究。

设备应用须知:
1、使用J200 LIBS仪器进行可重现的测量以实现可靠的质量控制;
2、使用激光诱导击穿光谱法(LIBS)快速分析采矿样品;
3、使用LIBS对半导体引线框架上的薄焊料镀层进行快速铅(Pb)分析;
4、使用激光诱导击穿光谱法(LIBS)对钢进行定量分析;
5、使用J200 LIBS仪器快速监测原始锂离子电池电极材料的成分;
6、使用激光诱导击穿光谱法(LIBS)进行氟分析。

J200激光诱导击穿光谱仪(LIBS)可将大量的等离子光耦合到检测器模块。此功能可实现高的灵敏度性能,通过对各种材料的不同干扰进行广泛测试的证明,ASI的化学计量软件包为我们的客户增加了另一层次的分析能力,固态锂离子电池装置深度剖面的激光诱导击穿光谱分析(LIBS),使用J200 LIBS仪器快速监测原始锂离子电池电极材料的成分,生产线操作员可以使用同一台J200仪器简单地运行准备好的测量配方以进行常规质量控制工作,或者实验室科学家可以使用该J200仪器进行前沿的元素研究,该仪器还包括适合客户应用的光谱仪类型,可为每种分析情况提供且合适的解决方案。

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