说明
    

AF45可以配合662和960紫外线分析仪测量过程流体在电磁波谱的 206nm、214nm或226nm特定点上的光谱吸收率。
AF45可测量吸收比高达 50 个光学密度单位，实际的满量程刻度是由传感器的通道长度和所用的分析仪决定的。  

特点和优点
·  可选择的EasyCalTM系统快速、简单地进行在线校准
·  选择的窗口清刷系统消除在测量窗上的过程堆积物
·  石抛光的石英窗可重复工作于苛刻的工业场合
·  FAD和USP可接受的密封材质可用于制药行业
·  低压锌（206nm）或镉（214/226nm）蒸气作为紫外光源保证长寿命和稳定的工作
·  精确的光学通道调节器与EasyCalTM配合，可根据要求将短通道长调整到精确度
·  适用于多种过程连接和管线尺寸
·  流通腔体设计满足卫生要求、CIP和SIP制程，内面抛光到0.4μm或更好。
·  气体排除端口可防止冷凝物堆积在探测窗
·  所有传感器已在工厂做过测试，可提供完整的证明包