美国 WAI AF44紫外线传感器AF44

AF44美国 WAI AF44紫外线传感器AF44

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2024-05-13 13:05:36
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产品简介

美国 WAI AF44紫外线传感器AF44 仪器名称:美国 WAI AF44紫外线传感器 仪器品牌: 仪器型号:AF44 送货时间:48小时内 标准价格:不详 本站售价:欢迎洽询 软件下载:无 资料下载:无 关键参数:美国 WAI AF44紫外线传感器

详细介绍

说明
    

AF44 可以配合662960紫外线分析仪测量过程流体在电磁波谱的 254nm~365nm 之间紫外线区域的特定点上的光谱吸收率。 
AF44
可测量吸收比高达 50 个光学密度单位,实际的满量程刻度是由传感器的通道长度和所用的分析仪决定的。
  

结构
每个传感器都是由卫生的带有石英或蓝宝石观测窗的流量腔、灯和供电箱室和测量探测器组成。所有可能与潮湿接触的材质都是 FDA 可接受的材质。传感器的壳体是由电抛光的 316L 不锈钢构成的。 

连接
传感器通过两根带有防水接头的电缆与分析仪连接,传感器与电缆之间的连接是密封的和有机械弹性的。 
标准过程连接为可达 2″Tri-Clover 连接,最小的连接孔与 1/4″ 管相同,大的 Tri-Clover 型测量单元,不同的连接方式的测量单元和长的通道系统是可选的。
 
灯架装有一个预聚焦低压高输出水银蒸汽灯和小型化的灯电源。仅需要外接一个 12Vdc ,内部电源产生点亮和维持水银灯所需的必要的高压。
 
这个灯( W 的)具有高输出预聚集的特性。它被安装在配合座中,并被锁定位置。灯头的位置确保的光线传送,并使更换灯成为简单的工作。
 
一个参照检测器和滤器组件用来测量该灯在检测所要求的波长下的输出。分析仪使用参考信号来提供稳定的输出和补偿由于老化引起的衰减。


测量和校验
测量探测室包含了一个 UV 增强的,安装在 NIST 可跟踪干扰的窄带滤镜的后面的,硅光学二极管确保精确的测量。一个石英透镜组将所有接受的光线聚焦到滤镜和探测器上,使探测到的范围达到。在内部有一个口可以容纳校验棒,每个传感器都提供一个校验参照棒使其不需使用液体标准样品就可进行校验。

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