一、特点：

1.采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，

根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。

2.无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设，通过光强直接准确地计算出颗粒群的粒度分布。

这种计算前提是合理的探测器设计和粒度分级，给设备本身提出很高的要求。

二、技术参数：

1.测量范围：0.1～1200微米

2.准确性误差：〈±1%（国家标准物质D50）

3.重复性偏差：〈±1%（国家标准物质D50）

4.电气要求：交流220±10V，50Hz, 200W

5.外观尺寸：主机1000×330×300mm  干法进样系统350×330×300mm

6.重量：40KG