LCR测试仪IM3570阻抗分析仪
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北京武西测控技术有限公司
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LCR测试仪和阻抗分析仪合二为一的IM3570通过扫频测量和峰值比较器功能对共振状态进行合格判定,并在LCR模式想能通过1kHz或120Hz的LCR测量进行检查。扫频测量和LCR测量一台仪器全部实现。
- 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和检查
- LCR模式下达1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的测量
- 基本精度±0.08%的精度测量
- 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
- 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
- 可以用于无线充电评价系统TS2400
和HIOKI以往的产品相比,将测量低电容(高阻抗)时的重复精度提高了一位。例如:1pF(1MHz,1V)的条件下,测量速度SLOW2的话,重复精度(偏差)*可达0.01%,实现稳定测量。 同时,因为也提高了相位的重复精度,所以提高了低电容(高阻 抗)测量时的D测量的稳定性。
IM3570可在DC和4Hz~5MHz的范围内以5为分辨率(1kHz以 下为0.01Hz分辨率)设置频带。可进行共振频率测量和接近工作条件状态下的测量和评估。
除了可以设定一般的开环信号,还能设定恒压/恒流模式。可设定的测量电平信号,从5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)。(根据频率、测量模式不同,测量信号电平的设置范围也不同。)
只需主机即可施加大2.5V的DC偏置电压进行测量。可放心对钽电容等极性电容器进行测量。充电阻抗为100Ω。
7位显示可进行多7位显示的分辨率测量。可设置3~7位的显示位数。
DC~5MHz可使用4端子探头
4端子探头L2000(选件)采用匹配50Ω阻抗和提高测量精度的4端子构造,适合于IM3570的探头。
4端子的构造降低了测试线的影响,测量线长0、1、2、4m时,保证测试精度。自动设备的排线方便简单。(根据线长的不同,精度保证的频率范围也不同)
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