主要特点及优点:

• 一个紧凑的单元中综合了如下功能：精密电压源、高精度电流源、数字多用表、任意波形发生器、电压或电流脉冲发生器、电子负载以及触发控制器
• 接触检测功能确保了高速及准确的测量
• 每秒10,000个读数和5,500个源-测量点记录到存储器，提供了更快速的测试
• 内置的测试脚本处理器(TSP™)提供非并行系统的自动化测试，将I-V测试的速度提高到同类产品的二到四倍
• 2600系列提供宽动态范围：1pA到10A，1μV到200V
• TSP-Link™主/从控制架构将多台2600数字源表无缝地整合成一个系统，将其作为一立的仪器进行编程和控制
• 免费的测试脚本编辑软件--Test Script Builder，可以轻松地创建功能强大的测试脚本，实现用户特定的测试功能
• 免费的LabTracerTM2.0 软件，无需编程直接得到半导体I-V 特性曲线，易学易用
• 每个40W,3A的通道都是独立的，从而保证了高度的测量完整性和配置的灵活性
• 业界的SMU机架密度特别适合自动化测试的应用

2600系列数字源表系列给电子元器件和半导体制造商提供了一个灵活的、高效的、性价比的方案，适合于精确DC、脉冲和低频AC的源-测量测试。基于最初2400系列数字源表的紧凑集成源-测量技术，2600系列仪器在I-V测试应用中 能够提供相当于同类产品的二到四倍的测试速度。它们还具备更高的源测量通道密度并且比同类产品显著地降低了使用成本。的模数转换器在小于100μs的时间内 可同时提供I和V测量值 (10,000 读数/s)，源-测量扫描速度为200μs每点 (5,500 点/s)。这种高速的源-测量能力加上*的自动化特性及软件工具使得2600系列数字源表系列成为广泛用于多种器件I-V测试的理想方案。

相关应用:
•对多种器件进行I-V函数测试和特性分析，包括：

• 分立的和无源的元器件
• 双引脚 - 电阻、盘驱动器头、金属氧化物变阻器(MOV)、二极管、齐纳二极管、传感器、电容器、热敏电阻
• 三引脚 - 双极型小信号晶体管(BJT)场效应晶体管(FET)等
• 并行测试 – 双引脚、三引脚元器件阵列
• 简单集成电路 – 光学、驱动器、开关、传感器

•集成的器件－小规模集成(SSI)和大规模集成(LSI)

• 模拟IC
• 射频集成电路(RFIC)
• 应用定制的集成电路
• 系统级芯片(SOC)器件

•光电器件如发光二极管(LED)、激光二极管、高亮度LED(HBLED)、垂直共振腔面射型激光器(VCSEL)、显示器
上述器件的研发和特性分析