FT/HP系列四探针测试仪探头

FT/HP系列四探针测试仪探头

FT系列四探针探头

FT系列四探针探头是采用综合性能优异的航空工程塑料、机械结构优良弹huang片、耐磨和硬度高的探针研制的测量数据稳定、可靠、准确度高、耐用性能好四探针探头。所有技术指标符合国家标准，同时符合ASTM标准有关规定；
 FT系列四探针探头可安装于探针测试台也可手持探头对样品进行测试，如对样品手持探头测试可搭配PH-Ⅱ型把手有效提高测试效率,此测试方式广泛应用于硅多晶料、头尾料、锅底料的电阻率分拣；与原有的TZT(9A、9B、9C、9D)系列四探针探头可替换使用

由于采用了综合性能优异的航空工程塑料四探针探头有如下特点：

①尺寸稳定性好，成型收缩率小于0．3％，线膨涨系数小于3x10-6；
②机械性能优异，抗张强度高于120MPa，弯曲强度大于150MPa，弯曲模量大于12GPa；
③电性能优异，介电强度大于17kv／mm，介电系数小于4，体积电阻率在1016数量级；
④耐腐蚀，除氧化性介质外，可以耐几乎所有的无机物质腐蚀；在200℃下，不溶于已知的所有机溶剂；
⑤低吸湿，在23℃水中经24小时浸泡后吸水率小于0．05％；
⑥阻燃性好，其氧指数大于40，为UV—94V—00／5—V级；
⑦耐高温，长期使用温度180℃；

技术参数

①探针间距：1±0.010mm；
②探针材料：高速钢或碳化钨；
③探针压力：5～8牛顿或12～16牛顿；
④探针机械游移率：小于0.3%；
⑤探针伸出的长度：3mm；
⑥针体夹角：60°；
⑦针间绝缘电阻：大于109Ω；

HP系列四探针探头

HP系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

特性及规格：

特制之手握式探笔

球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤

探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏

探头使用寿命长

探针间距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ