当测量特殊性产品，如多孔性产品或者粉末，可以使用其它介质当测量溶液，则需修改介质的密度，使测量结果能加以补偿。方法如下：

a)零点状态下，长按【A】键3秒钟以上，显示【c 25】后放手，再按【B】键一次进入R1测量介

质密度的设定。

b)循环按【A】键进行数字修改，按【ZERO】键左右移位。

c)设定好后，按【ENTER】键一次保存设定数据并返回至零点状态下；按【B】键一次进入下一个

设定模式。

2、防水处理介质密度的设定

当测量特殊性产品，除了采用更换测量介质外，还可以使用饱和法或者表面覆盖法进行测量，但必须设定饱和介质与表面覆盖介质的密度，用以计算防水处理后所产生的体积。当非常特殊的样品时，也可以与更换测量介质法同时使用，设定如下：

a)零点状态下，长按【A】键3秒钟以上，显示【c 25】后放手，按【B】键二次选择至R2防水处理介质密度的设定。

b)循环按【A】键进行数字修改，按【ZERO】键左右移位。

c)设定好后，按【ENTER】键一次保存返回至零点状态下；按【B】键一次进入下一个设定模式。

3、上、下限警示的设定

通过HO上限、LO下限的设定，即可自动判定待测物合格与否，并提示报警，步骤如下：

a)零点状态下，长按【A】键3秒钟以上，显示【c 25】后放手, 在不同的测量模式下，需循环按【B】键选择至LO~HI。

b)循环按【A】键进行数字修改，按【ZERO】键左右移位。

c)设定好后，按【ENTER】键一次保存设定数据并返回至零点状态下；按【B】键一次进入下一个设定模式。