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差热分析仪仪器创新点：
炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精 度高，易于操作；
差热分析仪产品介绍
差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。
仪器特点：
1：仪器主控芯片采用Cortex-M3内核ARM控制器，运算处理速度更快，温度控制更精确。
2：采用USB双向通讯，操作更便捷。
3：采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏，界面更友好。
4：采用铂铑合金传感器，更耐高温、抗腐蚀、抗氧化。
仪器参数 |
| 仪器配置 |
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JH-DTA350 | 技术参数 |
| 内容 | 数量（台） |
温度范围 | 室温~1350℃ |
| 主机 | 1台 |
量程范围 | 0～±2000μV |
| 光盘 | 1张 |
DTA精度 | ±0.1μV |
| 数据线 | 2根 |
升温速率 | 1～80℃/min |
| 电源线 | 1根 |
温度分辨率 | 0.1℃ |
| 铝坩埚 | 1包（100左右） |
温度准确度 | ±0.1℃ |
| 陶瓷坩埚 | 1包（100左右） |
温度重复性 | ±0.1℃ |
| 纯锡粒 | 1袋 |
温度控制 | 升温：程序控制 可根据需要进行参数的调整; |
| 10A保险丝 | 5只 |
降温：风冷 程序控制 |
| 说明书 | 1份 | |
恒温：程序控制 恒温时间任意设定 |
| 保修单 | 1份 | |
炉体结构 | 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精 度高，易于操作 |
| 合格证 | 1份 |
气氛控制 | 内部程序自动切换 |
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数据接口 | 标准USB接口 配套数据线和操作软件 |
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主机显示 | 24bit色, 7寸 LCD触摸屏显示 |
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参数标准 | 配有标准物，带有一键校准功能，用户可自行对温度进行校正 |
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基线调整 | 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线 |
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工作电源 | AC 220V 50Hz |
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