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性能特点
•光学系统采用艾伯特垂直对称形式装置，慧差及象散可矫正到理想程度，在较长谱面范围内谱线清晰，结构均匀。
•仪器采用三透镜消色差照明方法，狭缝得到均匀照明，使同一条谱线黑度均匀。
•仪器缝前的哈特曼光栏盘上设置哈特曼及三阶，九阶减光板。
•使用控制箱控制摄谱过程。
•仪器配备直流电弧，交流电弧光源，以适应不同分析任务的需要。
•仪器配置工作台，安装和操作方便。
应用领域
WP1型平面光栅摄谱仪是在200nm-800nm波段范围内作发射光谱分析的仪器。广泛地应用于地质、冶金、机械、石油化工等部门作光谱定量和定性分析。
