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ViewSizer 3000
传统测量技术存在很多缺陷，经常无法满足客户的要求，如对于宽分布样品粒度分布（PSD）的精确表征等。ViewSizer 3000利用*的多光谱技术，解决了大小颗粒同时测量这一传统难题。 参考价面议 -
BI-XDC圆盘式离心/沉降粒度仪
BI-XDC是基于经典的离心/沉降原理，通过高精度数字电机实现了*的转速控制精度，通BI-DCP一样，是具有统计意义的粒度仪中分辨率、准确度的纳米/微米颗粒粒度测量仪器。XDC以X-射线为检测光源，避免了对小颗粒样品的消光校正，广泛应用于陶瓷和金属粉末等行业的质量控制。 参考价面议 -
BI-DCP 圆盘式离心/沉降粒度仪
BI-DCP/BI-XDC是基于经典的离心/沉降原理，通过高精度数字电机实现了*的转速控制精度，是具有统计意义的粒度仪中分辨率、准确度的纳米与微米颗粒粒度测量仪器。广泛应用于胶乳、碳黑、陶瓷和金属粉末等行业的质量控制方面。 参考价面议 -
EyeTech粒度分析仪
EyeTech Combi是颗粒分析最终解决方案，它集成了*的LOT（激光光阻法）与专业的图像处理识别技术，提供样品粒度、粒形和浓度数据等完整的颗粒表征。*的激光阻隔时间分析技术（LOT），可快速准确地进行粒度分析；通过使用视频的精密动态图像分析技术，准确描述非球形材料；其测量结果与颗粒或介质的物理光学特性无关。 参考价面议 -
BI-200SM 广角动静态光散射系统
BI-200SM 广角动静态光散射系统作为的研究级光散射仪，长期以来代表着业界的技术水准：精度、测量范围、可扩展性以及可靠性都为行业树立了。遵循着面向用户需求的设计理念，BI-200SM 一直在根据实际应用，进行着持续的升级与创新，以期更好地为用户提供服务。 参考价面议 -
BI-MWA多角度激光光散射（分子量测定）仪
美国布鲁克海文仪器公司一直被为光散射领域的，它的每一项技术都代表着高水平。基于多年光散射技术和经验开发研制的BI-MwA多角度激光光散射（分子量测定）仪对光散射仪器进行了开创性的革新，引入的CCD检测器解决了分子量测定中存在的角度准确性与复杂的校准方法等诸多问题，使得分子量表征更加客观与可靠。 参考价面议 -
BI-RIVS 粘度/示差检测器
BI-RIVS粘度检测器采用全新技术的毛细管全桥式设计，具有高灵敏、低展宽、低噪音和节约测量时间等特点，其温控可从室温达到80℃。利用BI-RIVS可得到特征粘度，对样品进行同样校正，从而得到真实分子量和结构信息。特征粘度的检测结合Mark－Houwink曲线，得到分子结构如枝接密度，共聚组成信息。 参考价面议 -
BI-DNDC 示差折射仪
BI-DNDC示差折射仪是测量高聚物样品dn/dc值的专业仪器。由于光散射产品在大分子分子量测量中的广泛使用，越来越多的需要提供精确的dn/dc值参与分子量测量与计算。 参考价面议 -
BI-870 介电常数仪
精确的介电常数值对于Zeta电位的测量与计算是非常重要的。由于混合溶剂的介电常数无法直接从手册中查到，因而对于混合溶剂的介电常数的测量就显得非常必要。全新的BI-870介电常数测定仪不仅操作简单，而且也为Zeta电位的测量提供了可靠的保证. 作为参与Zeta电位计算的重要参数，纯净溶剂液体的介电常数值可以直接从手册上查询，混合体系的介电常数值通过直接测量得到是的办法。 参考价面议 -
ZetaPALS 高灵敏度Zeta电位分析仪
ZetaPALS是目前能够精确测量低电泳迁移率体系的Zeta电位分析仪器，它采用的是真正的硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，比其它测量Zeta电位的技术灵敏度高1000倍！ 参考价面议 -
ZetaPlus Zeta电位分析仪
ZetaPlus是简单、方便而且准确的电泳迁移率测量仪器，其*的开放式样品槽设计与频谱漂移分析技术相结合，使其具有*的分辨率，足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。它的革新之处是从根本上消除了传统Zeta电位测量仪器中固有的电渗误差的影响，从而使测量变得准确而方便。 参考价面议 -
90Plus PALS 高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪
90Plus PALS高灵敏Zeta电位及粒度分析仪粒度测量采用动态光散射原理，是一种准确、快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。Zeta电位测量采用全新的硬件PALS技术测量Zeta电位，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍，可适用于诸如低介电常数、 高粘度、 高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品测量。 参考价面议