XTU系列X荧光光普测厚度

检测78种元素镀层·0.005um检出限·较小测量面积0.002m㎡·较深凹糟可达90mm。

外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精密0.005mm，速度10-30mm(X-Y)/圈，较小再多的样品都没难度，让操作人员轻松自如。

应用领域

·线路板,引线框架及电子元器件接插件检测

·度纯金，K金，铂，银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

·手表，精密仪表制造行业

·钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Cu/Ni/FeNdB

·汽车，五金，电子产品等紧固件的表面处理检测

·卫浴产品，装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

·电镀液的金属阳离子检测

  性能优势

·下照式设计：可以快熟方便地定位对焦样品。

·无损变焦检测：可对各种异性形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

·为聚焦射线装置：可检测面积小于0.002m㎡的样品，可测试个微小的部件。

高效率的接收器：即使测试0.01m㎡         以下的样品，几秒钟也能达到稳定性

·精密微型滑轨：快速定位样品

·EFP*算法软件：

多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件

   XTU系列X荧光光普测厚度

技术参数

元素分析范围：氯（cl)~铀（U)

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析:23层镀层，24种元素

厚度较低出限:0.005um

较小测量面积:0.002m㎡（多重准值器可选）

对焦距离:0~90mm（测试凹槽，可变焦）

样品腔尺寸:500mm×360mm×215mm（C型设计，允许测试超出样品腔板状物体）

仪器尺寸:550mm×480mm×470mm

仪器重量:55㎏