SIM-红外成像设备性能评估系统

SIM型号较为简单，主要用作测量热像仪的焦距和分辨率。

DT系列设备是基于高性能的微分黑体和高分辨率的反射准直管（光管）设计的测量设备。这个设备可以检测与成像仪性能有关的很多参数，然而它也确实相当昂贵。所以还提供一个比较便宜的类型叫做SIM型号，用来满足预算较低或者需要测量的项目较少的客户 （SIM可测分辨率，灵敏度，焦距，光轴定位等)。

SIM设备是一个比较独立的系统，投射装置主要由NSB黑体和可以手动更换的IR分辨率片组成。

设备主要分为五个模块：标准分辨率的CDT离轴反射光管（不适用于检测长距离成像仪）、NSB黑体、CNSB控制器、TP2分辨率模块、一组红外分辨率片。CDT光管可以结合NSB40黑体和一组红外分辨率片来检测热像仪。

SIM设备通常可以投射两种分辨率片到热像仪上：1）Image of a cross target，2）image of IRUSAF 1951 target。投射图像的热对比可由CNSB软件控制改变NSB黑体温度来改变。这里我们应该要知道NSB黑体是一种非稳定黑体。用户可以调节它的温度但是它的温度是不稳定且不是很精确的（仅仅可控其温度上升或下降的趋势）。

当热像仪的生产者或使用者需要简单低成本成像仪，且基本只检测热像仪分辨率，焦距，和比较两个热像仪的灵敏度时SIM设备是一个很不错的选择。

产品特点:

 通用的设备，可在实验室或者一般的现场使用。

 对被测热像仪的光学口径没有限制。

 SAFT设备和被测热像仪的距离须大于所测热像仪的最小聚焦距离。

中长红外光谱带的敏感热成像技术是一项很重要的国防和安全技术，这些成像仪也在门取得了大规模的应用。所以检测这些热成像仪对生产，维护，和使用都有着不同的重要的作用。

因此高科技的校准和检测对这些昂贵的热像仪的生产，维护，培训，采购优化都有着重要的意义。

DT是检测热像仪可靠性的系列设备中受欢迎的设备，很多参数包括MRTD（最小可辨温差）都可以测试。

SIM型号较为简单，主要用作测量热像仪的焦距和分辨率。

WAP便携式广角设备，主要用作FOV比较大的热像仪检测。

LAFT检测比较基础的热像仪可靠性，可移动的工作站。

SAFT比较小的设备，主要设计来检测短距离的热像仪。

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