D&S 半球发射率测量仪

主要优势：

重复性: ± 0.01

操作简单:探测器采用电加热设计，无须加热样品，也不需要测量温度

快速测量：预热约30分钟，每1.5分钟测量一次发射率

价格实惠: 相较于一些用比较法测量发射率的仪器便宜很多

简要描述：

AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪仅对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。

把该仪器放在高发射率标准体（黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数；然后仪器就会根据这个标准，计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。

AE1测量样品最小直径为2.25英寸（5.7cm）。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头能使测量样品最小直径为1.0英寸（2.54cm），可以为圆柱形表面和几乎任何几何形状面需求的客户提供定制探头。对小直径圆柱形面样品测量，可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头，请来电垂询价格！

可选配件:

Model AE-AD1 - 测量直径最小可至1.5 inches(3.8 cm) 的样品。

Model AE-AD3 - 测量直径最小可至1.0 inches(2.54 cm)的样品。

Model AE-ADP - 测量适配器，端口内直径为13/8 inch，用来测量较小尺寸、低导热性、大曲率(>2 inches)圆柱表面或者粗糙结构表面的样品材料。

Custom Adapters – 定制测量适配器，用来测量圆柱体表面或者其它形状设计表面。

Battery Pack – 为方便客户便携式操作，我们还提供锂电池电池版本，可给该测量仪连续供电12小时左右，有电池电量指示，可充电。

技术参数:

D&S 半球发射率测量仪，现货，可提供一次样品测试服务，详情请致电