langer MV-Technik工具E1

Langer EMV-Technik处于EMC领域的研究，开发和生产的前沿。通过EMC实验研讨会和EMC研讨会，我们为客户提供了全面的知识。

我们的 干扰发射 和 抗干扰性 EMC测量技术以及IC测试系统主要用于开发阶段，并且在范围内都有需求。

产品展示

PCB抗扰度

测量系统和EMC工具，用于进行组件和设备的抗扰性测试和分析

PCB发射

在开发阶段用于组件和设备排放分析的测量系统和EMC工具

测量和校准站

测量和校准站用于校准EMC测量仪器并确定连接器的EMC参数。

教学与培训测量技术

EMC实验的模型装配

IC测量技术

借助IC（集成电路）测试系统，开发人员可以在特定干扰（传导和辐射）或其辐射期间测试电路的行为。该IC在运行中经过了测试。

E1是一组EMC工具，用于在开发阶段抑制印刷电路板中的EMI。开发人员可以使用E1集快速识别突发和ESD干扰的原因。这使开发人员可以设计适当的措施来解决干扰的原因。它也可以用来测试所采取措施的有效性。E1测试装置很小，可轻松安装在开发人员的桌子上。E1集用户手册介绍了EMC机制，并详细描述了用于抑制印刷电路板中干扰的基本测量策略。E1集包括一个发生器，用于产生突发和ESD干扰。

供货范围

• 1倍SGZ 21，脉冲发生器
• 1倍S21，光学传感器（10 Mbps）
• 1倍BS 02，磁场源
• 1倍BS 04DB，磁场源
• 1倍BS 05D，磁场源
• 1倍BS 05DU，磁场源
• 1倍ES 00，电场源
• 1倍ES 01，电场源
• 1倍ES 02，电场源
• 1倍ES 05D，电场源
• 1倍ES 08D，电场源
• 1倍MS 02，磁场探头
• 1倍E1 acc，配件
• 1倍NT FRI EU，电源装置
• 1倍E1案例，系统案例
• 1倍E1 m，E1设置用户手册

Langer EMV-Technik P1 set

Langer EMV-Technik P23 set

Langer EMV-Technik P11t set

Langer EMV-Technik P12t set

Langer EMV-Technik CAN 100 set

Langer EMV-Technik CAN 100 A01 set

LIN 100 set

BD 11

BD 06B

BD 01B

BD 01E

ESA1 set

HFW 21 set

Z23-1 set

Z23-2 set

NNB 21 set

PA 203 SMA套件

PA 303 BNC套件

PA 303 SMA套件

PA 303 N套

PA 306 SMA套

ICS 105

FLS 106 IC

Langer EMV-Technik FLS 106 PCB

Langer EMV-Technik SUH 106

Langer EMV-Technik LF1

Langer EMV-Technik MFA-K 0.1-12 set

Langer EMV-Technik A100-1 set

Langer EMV-Technik XF-R 100-1

迷你突发场发生器特别小。它们用于在开发阶段识别和消除电子装配中的薄弱环节。它们会在其产生脉冲串或ESD场。微型脉冲发生器用手在其被测设备（例如印刷电路板）上靠近其表面的方向上引导。弱点会响应脉冲场，并且会发生故障。突发场发生器可以应用于电路板设计的选定单个部分，以识别潜在的弱点（接地系统中的故障，单个走线或IC引脚）。分开的磁耦合（P11和P12）和电耦合（P21）允许针对相应的弱点佳地调整EMC对策。

供货范围

• 1倍P11，迷你爆发场发生器（B）
• 1倍P12，迷你爆发场发生器（B）
• 1倍P21，迷你爆发场发生器（E）
• 1倍P1机壳，Mini Burst Field Generators机壳
• 1倍P1 m，P1设置用户手册
• langer MV-Technik工具E1