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测量范围:X方向的扫描长度最大为140 mm。
分辨率:使用粗糙度测头系统时,测量范围1为2.0 nm,测量范围2为0.2 nm;使用轮廓测头系统时,最高为6 nm(210 mm测杆)。
定位速度:X轴0.02 - 200 mm/s,Z轴0.02 - 50 mm/s。
测量速度:最高可达10 mm/s。
导轨偏差:使用粗糙度测头系统时,0.07 µm / 20 mm,0.35 µm / 60 mm,0.4 µm / 140 mm。
测量力:使用粗糙度测头系统时,0.7 mN,可通过软件在4 mN至30 mN之间调整。
测头系统:可选择粗糙度测头系统(无导块)或轮廓测头系统。
最大工件重量:90 kg。
测杆长度:使用粗糙度测头系统时,45 mm至135 mm;使用轮廓测头系统时,210 mm至490 mm。
重量:约200 KG。
Mahr轮廓和粗糙度测量仪MarSurf CD 140
Mahr轮廓和粗糙度测量仪MarSurf VD 140
Mahr轮廓和粗糙度测量仪MarSurf UD 130
Mahr轮廓和粗糙度测量仪MarSurf WI 100
Mahr轮廓和粗糙度测量仪MarSurf WI 50
Mahr轮廓和粗糙度测量仪MarSurf WI 50 M
Mahr轮廓和粗糙度测量仪MarSurf M 310
Mahr轮廓和粗糙度测量仪MarSurf GD 280
Mahr轮廓和粗糙度测量仪MarSurf GD 140
Mahr轮廓和粗糙度测量仪MarSurf VD 280
德国Mahr轮廓测量仪
德国Mahr轮廓测量仪