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HiR透镜
全新设计的较适合HDLC-CMOS传感器的高分辨率透镜。
采用本公司的光学仿真技术,将像差降低到小限度。
可将任何角度的光线在受光部以极小点成像,实现了更高的精度。
*的光学配置和光圈结构,实现了发射强度接近理想的近似正态分布的高品质激光。
另外,通过在投光量调整功能中采用新的算法,可以瞬时跟踪受光量的变化,确保投光状态始终保持。
超高速计算处理
配备*的算法,可以在达到高精度的同时实现高速度。所有信号都经过数字化高速处理。
传感器检测头
■对应「扩散反射」&「正反射」根据工件表面,在很难选定较适合的传感器的场合。
即使是在这样的情况下,只有一台检测头情况下也可以保证安定的检测状态设置。
■受检工件容许倾斜的范围更宽与以往相比,对倾斜的容许度提高了1.5倍,即使测量时工件发生变动,也能轻松检测。 [HL-C203B(-MK)の場合]
■省空间的小型检测头小型检测头,与本公司以往产品相比,体积比下降了约23%,可以将安装空间减小到极限程度。 [HL-C203B(-MK)の場合]
控制器
■可连接两个检测头可在控制器内对各个测量值进行计算。
■丰富的I/O可以连接各种设备,可以通过这些设备对记录的数据进行显示、分析处理,以及对传感器进行控制。
■无偿提供API(Application Programming Interface)可以通过USB连接的电脑使用控制HL-C2的API。还备有样品程序,有助于编程。
进口SUNX超高速.高精度激光位移传感器