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德国LANGER探测头
德国LANGER近场探头LANGER EMV-Technik近场探棒LANGER EMV-Technik放大器LANGER EMV-Technik测量仪LANGER EMV-TechnikLANGER EMV-Technik场频信号发生器LANGER EMV-Technik脉冲发生器LANGER EMV-Technik探测头LANGER EMV-Technik电路检测器。
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德国LANGER EMV-Technik扫描仪FLS 106 PCB
LANGER EMV-Technik是一家在电磁兼容领域（EMC）进行研究开发生产和培训的德国企业。LANGER EMV-Technik的电磁干扰发射和抗干扰能力测量技术以及集成电路测试系统为开发全过程提供支持，在范围内广受欢迎。LANGER EMV-Technik公司以其电磁兼容专有知识和测量技术展现出在组件和集成电路开发中的新视角和经济高效的工作策略。LANGER EMV-Technik为近场测试设计的探头，是电磁兼容工程师*的*基本工具，用于在产品开发期间探测PCB的电磁场情况，近场探头的优点：汉达森窦世文15801397840
多达19个各种形状的探头，可以完成几乎所有的电磁场测试任务；
多种分辨率的探头，实现从粗略定位到精细定位
低成本高性能；
频率范围覆盖100kHz－3GHz；
适用于检查机箱泄漏PCB内部电磁场分布电缆上的电磁场分布等；
使用简单，携带方便。
近场探头的用途：汉达森窦世文15801397840
主要应用于查找干扰源，判定干扰产生的原因。
可以检测器件或者是表面的磁场方向及强度。
可以检测磁场耦合的通道，从而调整连接器或者是显示器位置
可以检测PCB附近的磁场环境情况汉达森窦世文15801397840
德国LANGER EMV-Technik扫描仪FLS 106 PCB
产品范围：
德国LANGER近场探头LANGER EMV-Technik近场探棒LANGER EMV-Technik放大器LANGER EMV-Technik测量仪LANGER EMV-TechnikLANGER EMV-Technik场频信号发生器LANGER EMV-Technik脉冲发生器LANGER EMV-Technik探测头LANGER EMV-Technik电路检测器
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主要型号：
德国LANGER BD06B
德国LANGER BD01B
德国LANGER BD01E
德国LANGER BD11
德国LANGER MFA 01
德国LANGER XF 1
德国LANGER SX
德国LANGER MFA01
德国LANGER MFA02
德国LANGER SX1
德国LANGER XF1
德国LANGER XF
德国LANGER RF1
德国LANGER RF2
德国LANGER RF3
德国LANGER RF4-E
德国LANGER RF-E
德国LANGER LF1
德国LANGER LF
德国LANGER PA203
德国LANGER PA303
德国LANGER RFS
德国LANGER VM251
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MFA 01微型近场探头组简介：
由于集成电路集成度以及时钟速率的不断提高，PCB上存在大量杂散场和杂散电流，并以磁场形式相互耦合，导致产生GHz级别的辐射扰。*的CISPR 22标准要求测量到6GHz。由于PCB上大量安装高密度SMD器件，只有使用高分辨率探头，才能真正找出问题所在。
LANGER EMV-Technik公司*推出的新一代手持式有源近场探头（MFA 01），频率范围覆盖1MHz到6GHz，分辨率可达200µm，用于PCB布线元器件和IC引脚的细致的磁场测量，能对集成电路引脚或SMD器件进行选择性的测量，使用MFA-R 0.2-6探头能诊断高频磁场问题，使用MFA-K 0.1-12探头能确定高频电流。所有微型磁场探头都有内置的放大器，BT 706偏置器给放大器提供供电。偏置器的阻抗为50Ω，为微型磁场探头提供稳定的供电（9V/100mA），BT 706带有一个12V/70mA的电源。微型磁场探头以及偏置器采用SMA连接器。
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近场探头组MFA 01包括：
H-场探头MFA-R 0,2-6
H-场探头MFA-R 0,2-75
H-场探头MFA-K 0,1-12
偏置器BT 706
电源适配器
SMA-SMA电缆，长度1米
盒子(340 x 240 x 55) mm
主要技术指标：
| 频率范围 | 分辨率 | 结构 | 连接器 |
MFA-R 0,2-75 | 1MHz～1GHz | 300 µm | 双水平环 | SMA |
MFA-R 0,2-6 | 100MHz～6GHz | 300 µm | 垂直环 | SMA |
MFA-K 0,1-12 | 100MHz～6GHz | 200 µm | 垂直环 | SMA |
偏置器BT 706 | 500kHz～6GHz |
|
| SMA |
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SX系列近场探头简介：
SX系列近场探头，用于测量电子模块元器件和IC引脚的高频近场，频率范围可达10GHz。探头内部不含预放，为无源探头，可使用射频电缆连接到预放或频谱分析仪的50欧姆输入端。
LANGER EMV-Technik SX近场探头组包含2个无源近场探头，用于在研发阶段以高时钟频率测量电子模块上的电场和磁场，频率范围为1GHz到10GHz。SX探头组的探头可以紧贴电子模块进行测量，比如贴近单个集成电路引脚、导线、元件及其连接点，从而定位干扰信号源。通过相应地操作近场探头，能够测量出电子模块上电磁场的方向及其分布。这种近场探头小巧轻便，并具备外皮电流衰减和电屏蔽。 这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。探头内部有一个终端电阻。
LANGER EMV-Technik SX近场探头组产品内容：汉达森窦世文15801397840
1xSX-E 03, 电场探头（1GHz-10GHz）
1xSX-R 3-1, 磁场探头（1GHz-10GHz）
1xSMA-SMA 1 m, SMA-SMA 测量电缆
1xCase 4
LANGER EMV-Technik SX近场探头组技术参数
频率范围:1 GHz - 10 GHz
接口类型：SMA, female, jack
重量：200 g
LANGER EMV-Technik SX近场探头组产品简介：
SX-E 03型探头底部的电极尺寸约为4x4mm，用于检测定位很小的电场源，例如导线、集成电路板上的单个元器件。
SX-R 3-1型磁场探头尺寸小，用于高分辨率测量高频磁场，因而能够识别出作为潜在干扰源的小元件。此外，由于探头尺寸小，适于测量很难靠近的位置，例如集成电路引脚的周围区域。
Langer 扫描仪
用于定位高分辨率测试系统的定位系统
ICS 105 set
四轴定位IC扫描仪
ICS 105型集成电路扫描仪，可对集成电路和小型组件进行高频近场测量。根据使用的探头情况，可在 (50x50x50) mm 的空间范围内对磁场或电场进行测量，并在电脑上显示测量结果。此外，探头可自动旋转以确定磁场的准确方向。 可单独订购的 ICR 型近场微探头适用于 1.5MHz 至 6GHz 频率范围内的测量，空间分辨率可达 50μm。
FLS 106 IC set
四轴定位IC扫描仪
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FLS 106型IC扫描仪可以在电子组件的集成电路上方，借助ICR-近场微探头对频率在6GHz以内的高频磁场或电场进行高分辨率（50-100μm）测量。 使用近场探头和带有SH 01探头支架的场源 使用ICR-探头（旋转单元） 工作状态下对集成电路的采样 四轴定位系统 可提供一个扫描台 GND/CB 和附件随后交付 顾客进行测试时用到的其他附件在协商后也包含在供货范围内。
FLS 106 PCB set, PCB 扫描仪 （三轴定位系统）
FLS 106 PCB set
PCB 扫描仪 （三轴定位系统）
FLS 106 PCB 型扫描仪组的目的是，方便近场探头检测电子元件组的磁场或电场。扫描仪和近场探头系列（从SX到LF）的组合可以测量频率范围为100kHz-10GHz的电场或磁场。该近场探头可以在元件组上方沿三个轴运动。近场探头在受试设备上方的光学定位可以在数字显微相机的协助下完成。扫描仪支持防撞功能，在探头沿垂直方向运动触碰到受试设备时停止运动。 在电脑上通过ChipScan-Scanner软件可以控制FLS 106 PCB型扫描仪。这款软件同时可以从频谱分析仪中读取测量数据，（2D或3D）图像，以及输出测量数据（CSV文件）。
SUH 106
SUG 106
